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爱德万最新多功能参数量测仪模组扩大SoC测试功能

作者:佚名  来源:电子元器件  时间:2014/12/6 11:35:02

 爱德万测试(Advantest)推出 T2000 平台最新多功能参数量测仪(PMU)模组 T2000 PMU32E ,提供高于现有模组两倍的解析度与精准度,进一步提升数位、类比与电源管理系统单晶片(SoC)元件的测试效能。
  全新模组 PMU32E 具备高密度32通道,可与爱德万测试原有 PMU32 模组完全相容(即使两模组使用相同测试机台介面单元),且能提供高于现有模组两倍之解析度与精准度。 T2000 测试系统结合全新 PMU32E 模组,将能在量测精准度、安装时间与连结功能方面达到极高水准,媲美T2000 EPP系统效能。
  爱德万测试SoC测试事业执行董事暨执行副总裁冈安俊幸表示:“我们在这款全新参数量测仪模组上提供了更高效能,让客户能以较低投资成本获得EPP测试系统功能。”
  T2000 PMU32E 不仅量测时间较现有模组快上一倍以上,尤其在直流缆线性量测时间方面,更因为取样率与资料传输速度的提升而大幅缩短。量测速度的加速,使得测试产能能够明显提高,整体测试成本也随之降低。
  此套新模组另一个进一步改善作业效率的优势,在于能够执行针对现有 PMU32 模组所开发的测试程式;除此之外, PMU32E 提供了两倍之多的记忆体容量,让不受通道之限的任意波形产生器(AWG)与数位器增添更多功能。
  PMU32E 亦支援晶片内建稳压器(ODR) 连同其 ISVM (电流源暨电压量测) 连结功能的载入测试。
  爱德万测试全新 PMU32E 模组预计于2015年第一季开始出货。
  

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